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射频元件缺损检测

开发背景                                                                                          

        在射频元件生产后段,产品装入料带前需要检测产品正反方向、表面镀层、引脚长短、是否变形和缺胶。任何坏品都应该剔除。传统人工挑选方法面临检测速度慢,劳动强度大和容易漏检的问题。

 

系统原理                                                                                          

        产品到达测量位置时,光纤传感器给出测量信号,高速彩色数字相机抓取产品图像,判断上下PIN是否在位置上,区分两PIN颜色是否正确,再确定尺寸大小是否合格,完成检测后,若NG则报警停机,提示操作人员排除。

 射频元件缺损

 

性能指标                                                                                         

        检测内容:元件正反与缺陷判断;

       ◇ 视场大。8mm*6mm

       ◇ 检测精度:0.012 mm/Pixel

       ◇ 检测速度:10个 /秒

       ◇ 检测结果:坏品图片存入电脑,可任意查询。

 

产品优势                                                                                         

        ◇不良品漏检率为0,避免客诉问题。

        ◇节约人工成本,高效,精准,彻底解决人眼产生的疲劳误判。

        ◇可持续长时间稳定工作,故障率低。

        ◇非接触测量,对被测物体不会产生损伤。

        ◇报表输出,数据存储,以便不良品分析。

 

适用范围                                                                                        
          半导体元件表面缺陷特征监测、字符印刷残缺检测、芯片引脚封装完整检测、元件破损检测、端子引脚尺寸检测、编带机元件极性识别、键盘字符检测等。

 

 

        更多产品介绍信息请登录公司官网:www.chytime-ccd.com,深圳市创盈时代科技有限公司是一家专注于CCD机器视觉检测系统,CCD光学检测设备,视觉识别系统,视觉方案定制,非标自动化设备的研发生产和销售于一体的高科技企业。

 

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